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近接磁界

試験の概要

近接磁界試験を要求する主な規格

IEC 60601-1-2:2014+AMD1:2020 Ed.4.1 (IEC 61000-4-39:2017参照)

近接磁界試験の目的

RFIDや誘導調理器から発生する磁界に対して磁界に敏感な回路や素子を持つ医用機器の耐性を定量的に確認する。

試験方法

無線周波磁界(以降、磁界と記す)を発生することができる試験システムを用いて試験する。
試験システムは、通常、信号発生器(SG)、広帯域パワーアンプ、ループアンテナ、および制御用PCで構成される。

測定時の構成

合否の判定

合否の判定は製造者のリスクマネジメントによって規定された性能判定基準を基にして行う。

試験レベル

適用する規格に試験レベルが規定されている。

試験レベルの目安(IEC 60601-1-2の例)
試験周波数 変調 試験レベル
30 kHz a) CW 8 A/m
134.2 kHz パルス変調 b)
2.1 kHz
65 A/m c)
13.56 MHz パルス変調 b)
50 kHz
7.5 A/m c)
a) この試験は、ホームヘルスケア環境での使用を目的としたME機器とMEシステムにのみ適用できる。
b) 搬送波は、50 % デューティサイクルの方形は信号を使用して変調される。
c) 変調が適用される前のr.m.s.

性能判定基準

近接磁界試験における判定基準(IEC 60601-1-2の例)
判定基準 内容
- 個別規格又はリスクマネジメントに基づき決定する

試験配置(イメージ)

卓上機器の例


近接磁界試験が可能な弊社設備

項目 幸田サイト
サイト寸法
(奥行×幅×高さ) [m]
4.0 × 8.5 × 3.5
ターンテーブル 直径 [m] 1.5
積載重量 [t] 0.5
最大電源供給能力 単相 4 kVA
近接磁界 最大印加レベル 9 - 150 kHz
75 A/m
150 kHz - 10 MHz
6 A/m
10 - 20 MHz
3 A/m
# 13.46 -13.66 MHz に限定した場合
12 A/m
20 - 26 MHz
2 A/m
主な対応規格 設備、対応範囲
試験周波数 変調 試験レベル
IEC 60601-1-2
(IEC 61000-4-39)
30 kHz CW 8 A/m
134.2 kHz パルス
2.1 kHz
65 A/m
13.56 MHz パルス変調
50 kHz
7.5 A/m
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